تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۷۱ ثانیه یافت شد.

1. Kelvin probe force microscopy :

پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Atomic force microscopy.,Electrostatics-- Measurement.,Scanning probe microscopy.,Materials science.,Materials science.,Measurement.,Mensuration & systems of measurement.,Microscopy.,Nanotechnology.,Physical measurements.,Physics.,Precision instruments manufacture.,SCIENCE-- General.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology),Testing of materials.,Thin films.

رده :

QH212

.

A78

K45

2018

2. Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces

پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors

کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)

موضوع : ، Atomic force microscopy,Measurement ، Electrostatics

رده :

QH

212

.

A78K4

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است